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Pour mon projet tuteuré j’ai travaillé sur la microscopie acoustique. Le principe consiste à envoyer un signal RF sur un piézoélectrique, il se déforme, ce qui crée une onde (le piézo est collé sur un barreau de silicium) cette onde se propage dans le barreau jusqu’à une lentille acoustique (analogue à l’optique (Snell Descartes)) pour focaliser l’onde à l’endroit voulu. Par réflexion on obtient un signal de faible amplitude que l’on analyse (effet inverse du piézoélectrique il sert de traducteur).

Cette méthode est utilisée pour le contrôle non destructif des matériaux (mise en évidence de phénomènes de délamination par exemple) mais aussi il peut servir à déterminer le module d’Young d’un matériau avec une précision supérieure aux méthodes de traction mécanique.

Je disposait d’un châssis PXI 1062Q, d’un contrôleur 8108, d’une carte IF RIO 5641R, d’un circulateur et d’un traducteur piézoélectrique:

Voici une copie d’écran du logiciel réalisé:

Zoom sur l'écho de lentille

On observe un signal large et modulé de forte amplitude c’est le signal d’exitation du piézo, le pic au centre est le premier écho de lentille, placé à 34microsecondes du signal source.

 

A cause des modulations ajoutées par la carte qui pour le moment n’a que le driver en mode quadrature et pas interpolation… le microscope n’est pas encore exploitable. J’ai aussi travaillé sur une méthode d’intercorrélation pour augmenter la résolution du microscope.

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